X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品，产生X荧光(二次X射线)，探测器对X荧光进行检测。

一、X荧光光谱仪技术原理：

受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：

λ=K(Zs)2

式中K和S是常数。

而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：

E=hν=hC/λ

式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。

因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

二、产品特点

1.镀层检测，zui多镀层检测可达5层。

2.对于薄镀层分析精确，可以精确的分析小于1uin(0.025um）的镀层，可以准确分析0.2-0.5uin的金层。

3.可同时进行选配RoHS检测功能，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。

4.可同时进行选配镀液药水分析功能，一分钟即可分析出药水内金，镍，铜等药水含量，分析精度为0.01ppm，

5.可同时进行选配合金成分分析功能。

6.开槽式超大可移动，源兴二次元全自动样品平台610*525(长*宽)，样品移动距离可达112*2X5mm(长*宽*高)；专为线路板行业研制。

7.激光定位，可以连续自动多点程控测量；

8.可以选配多准直器系统，单准直器/6个准直器/7个准直器。

9.可检测固体、液体、粉末状态材料；

10.运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；

11.可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析；

12.操作简单、易学易懂、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（20-40秒）；

13.标配德国AmptekSI-Pin探测器，选配高精度硅漂移SDD探测器，保证测试精度。

14.软件支持无标样分析。

15.相对于传统镀层，开机不需要预热，直接可以测量，测量后可以直接关机，节约用电，减少关键部件（X射线管，高压等）消耗，并减少了等待时间。